什么叫Scan Test

不知道,等高人过来解答! 就是类似于功能测试。跑PATTERN。 SCAN TEST,应该是扫描测试． 本人在做测试工序。我觉得SCAN TEST 应该是指DEVICE的MARK和LEAD是否清晰 一般来说，我们测试不外乎就是输入固定的信号，然后测试输出。 在测试时序电路中，如果我们想知道电路的中间点的状态，这时就用到了scan test。 具体来说，就是在设计电路时，把你认为的关键点连接到一个移位寄存器上去。一方面可以把内部节点的状态写入寄存器，这样你可以知道这个寄存器之前的电路工作是否正常。另外一方面，你也可以把寄存器设置为输入装置，然后观察后面的输出。这样你可以考证寄存器之后的电路工作的是否正常。 Scan的主要思想是要获得对触发器的控制和可观察性。通过对电路增加一个测试模式，使得当电路出于此模式时所有触发器在功能上构成一个或多个移位寄存器来实现的。这些移位寄存器的输入和输出可以变成原始输入与原始输出。这样，利用这个测试模式，通过将逻辑状态移位到移位寄存器的方法，可以把所有的触发器设置成任意需要的状态。类似地，可以通过将扫描寄存器的内容移位出来的方法观察触发器的状态。 蛮详细的。。。不错 挺好的,知道了不少, 但对于测试来说就是跑段PATTERN. 但是它是结构测试.非功能测试 受教了~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~ 了解了，多谢多谢。。。。 3q,3q,3q,3q,3q 分析的不错学到了 不知道在设备上能玩的转不？努力 good!学到不少。。 测试的种类很多。.慢慢学习了. IEEE在1990年初发表了IEEE1149.1-1990国际标准，这个标准主要关于如何将一些控制逻辑和测试寄存器在一块芯片上进行合并，以便对内部逻辑和各片间的连接进行测试，它是关于数字电路的边界扫描，用的最多。它可以分为两个部分，1149.1a（数字边界扫描标准）和1149.1b（边界扫描描述语言）。1149.1a定义了数字电路的芯片级的测试结构。1149.1b是硬件描述语言，用于描述边界扫描。 边界扫描的结构 clip_image002.jpg图1 图1显示了包含边界扫描结构的芯片。内部逻辑是在加入1149.1a结构之前的原始电路。取名叫做边界扫描是因为给原始电路的每个I/O口都加入了边界扫描单元，这些单元是在边界扫描通道上。图2是将芯片中的边界扫描电路提取出来，我们可以将IEEE1149.1a分到4个主要部分中。  4个必须的(TDI，TDO，TMS and TCK)和1个可选的（TRST）测试口  1个测试访问端口控制器  1个指令寄存器和与其相关的解码器  一些可选的测试数据寄存器。 clip_image001.gif 呵呵，长知识了哇，以前都没有听过