平面度的计算方法

有以下五种：

1、打表测量法：打表测量法是将被测零件和测微计放在标准平板上，以标准平板作为测量基准面，用测微计沿实际表面逐点或沿几条直线方向进行测量。打表测量法按评定基准面分为三点法和对角线法：

三点法是用被测实际表面上相距最远的三点所决定的理想平面作为评定基准面，实测时先将被测实际表面上相距最远的三点调整到与标准平板等高；

对角线法实测时先将实际表面上的四个角点按对角线调整到两两等高。然后用测微计进行测量，测微计在整个实际表面上测得的最大变动量即为该实际表面的平面度误差。

2、液平面法：液平面法是用液平面作为测量基准面，液平面由 “连通罐”内的液面构成，然后用传感器进行测量。此法主要用于测量大平面的平面度误差。

3、光束平面法：光束平面法是采用准值望远镜和瞄准靶镜进行测量，选择实际表面上相距最远的三个点形成的光束平面作为平面度误差的测量基准面。

4、激光平面度测量仪：激光平面度测量仪用于测量大型平面的平面度误差。

5、利用数据采集仪连接百分表测量平面度误差的方法。

测量仪器：偏摆仪、百分表、数据采集仪。

测量原理：数据采集仪可从百分表中实时读取数据，并进行平面度误差的计算与分析，平面度误差计算工式已嵌入我们的数据采集仪软件中，完全不需要人工去计算繁琐的数据，可以大大提高测量的准确率。

参考资料：百度百科-平面度

"平面度" 在机械几何形状误差测量中的解释：

平面度是指基片具有的宏观凹凸高度相对理想平面的偏差。

公差带是距离为公差值t的两平行平面之间的区域。平面度属于形位误差中的形状误差。

平面度误差测量的常用方法有如下几种：

1、平晶干涉法：用光学平晶的工作面体现理想平面，直接以干涉条纹的弯曲程度确定被测表面的平面度误差值。主要用于测量小平面，如量规的工作面和千分尺测头测量面的平面度误差。

平面是由直线组成的，因此直线度测量中直尺法、光学准直法、光学自准直法、重力法等也适用于测量平面度误差。测量平面度时，先测出若干截面的直线度，再把各测点的量值按平面度公差带定义(见形位公差)利用图解法或计算法进行数据处理即可得出平面度误差。也有利用光波干涉法和平板涂色法测量平面误差的。

2、打表测量法：打表测量法是将被测零件和测微计放在标准平板上，以标准平板作为测量基准面，用测微计沿实际表面逐点或沿几条直线方向进行测量。打表测量法按评定基准面分为三点法和对角线法：三点法是用被测实际表面上相距最远的三点所决定的理想平面作为评定基准面，实测时先将被测实际表面上相距最远的三点调整到与标准平板等高；对角线法实测时先将实际表面上的四个角点按对角线调整到两两等高。然后用测微计进行测量，测微计在整个实际表面上测得的最大变动量即为该实际表面的平面度误差。

3、液平面法：液平面法是用液平面作为测量基准面，液平面由 “连通罐”内的液面构成，然后用传感器进行测量。此法主要用于测量大平面的平面度误差。

4、光束平面法：光束平面法是采用准值望远镜和瞄准靶镜进行测量，选择实际表面上相距最远的三个点形成的光束平面作为平面度误差的测量基准面。

5、激光平面度测量仪：激光平面度测量仪用于测量大型平面的平面度误差。

6、利用数据采集仪连接百分表测量平面度误差的方法  。

测量仪器：偏摆仪、百分表、数据采集仪。

测量原理：数据采集仪可从百分表中实时读取数据，并进行平面度误差的计算与分析，平面度误差计算工式已嵌入我们的数据采集仪软件中，完全不需要人工去计算繁琐的数据，可以大大提高测量的准确率。

平面度误差是指被测表面对理想平面的变动量，而理想平面的方位应符合最小条件，即其方位应使被测表面对理想平面的最大变动量为最小。

这是什么意思呢？假设我们测得一个面内4点的高度，取其中3点构成一个平面，另一个点偏离这个平面的距离（注意是距离不是高度，也就是说这点到平面的垂线的长度）就是这个点的平面度误差。那么我们取那3个点比较好呢？原则就是要使得取了3个点后，剩下一个点的平面度误差最小。

这是根据形位公差国家标准规定的，是唯一的平面度计算方法，并不存在你所问的“平面度常用的计算方法有几种？”。

如果你问的意思是平面度常用的测量方法，我可以简单介绍一下。

一、标准平面法。这类方法需要实物标准作标准平面。
1.平晶法，又叫等厚干涉法。
2.平板测微仪法。

二、标准直线法。
1.水平面（仪）法。
2.对角线法。

各种方法的详细内容请查阅相关书籍。

书上都有