MOS管栅极串联电阻如何确定

这只是定性分析,可以定量吗
2024-12-20 13:05:08
推荐回答(2个)
回答1:

MOS管栅极串联电阻的确定方法:

当 Rg 增大时,导通时间延长,损耗发热加剧; Rg 减小时, di/dt 增高,可能产生误导通,使器件损坏.应根据管子的电流容量和电压额定值以及开关频率来选取 Rg 的数值。

MOS管的输入电阻很大,这个电阻不是为了提升输入电阻或者限流作用。在低频条件下,电阻小,可忽略。在高频时,MOSFET的输入阻抗将降低,而且在某个频率范围内将变成负阻,会发生振荡。

扩展资料:

MOS管的相关要求规定:

1、MOS晶体管的空穴迁移率低,因而在MOS晶体管的几何尺寸和工作电压绝对值相等的情况下,PMOS晶体管的跨导小于N沟道MOS晶体管。此外,P沟道MOS晶体管阈值电压的绝对值一般偏高,要求有较高的工作电压。

2、PMOS的工作原理与NMOS相类似。因为PMOS是N型硅衬底,其中的多数载流子是电子,少数载流子是空穴,源漏区的掺杂类型是P型,所以,PMOS的工作条件是在栅上相对于源极施加负电压。

3、MOS晶体管可分为N沟道与P沟道两大类, P沟道硅MOS场效应晶体管在N型硅衬底上有两个P+区,分别叫做源极和漏极,两极之间不通导,源极上加有足够的正电压(栅极接地)时,栅极下的N型硅表面呈现P型反型层,成为连接源极和漏极的沟道。

参考资料来源:百度百科-MOS管

回答2:

从理论上说,MOS管的输入电阻很大,所以这个电阻绝不是为了提升输入电阻或者限流作用。
在低频条件下,这个电阻有点安慰性质,不接也罢。
但在高频时,情况就变了,MOSFET的输入阻抗将降低,而且在某个频率范围内将变成负阻,会发生振荡。
为改变控制脉冲的前后沿陡度和防止震荡,减小集电极的电压尖峰,应在栅极串上合适的电阻 Rg .当 Rg 增大时,导通时间延长,损耗发热加剧; Rg 减小时, di/dt 增高,可能产生误导通,使器件损坏.应根据管子的电流容量和电压额定值以及开关频率来选取 Rg 的数值.通常在几欧至几十欧之间 ( 在具体应用中,还应根据实际情况予以适当调整 ) .另外为防止门极开路或门极损坏时主电路加电损坏器件,建议在栅源间加入一电阻 Rge ,阻值为 10 k Ω左右.
这个Rg的值,你可以在datasheet中,Td on 和Td off一栏后面可以见到。
你可以直接使用这个数据。
PS:到现在为止还没搜索到这方面的定性计算公式。你可以参考一下,仙童公司出过一份关于MOSFET基础知识的资料,全英文的,里面有一些谈及。