个人猜想,可能有误——就比如N型半导体,多子是自由电子,少子是空穴。自由电子来源有两部分,杂质原子本身多出的一个电子和共价键中被激发出来的电子。而空穴来源只有共价键。因为载流子浓度按指数规律增加,少子和多子的数量函数的底数不同,故而变化快慢也不同。
致半导体性能温度稳定性差的主要原因有二;(2)少数载流子浓度与温度有关(随着温度的升高而指数式增加).是受多子的影响,容易混淆:(1)禁带宽度与温度有关(一般,随着温度的升高而变窄)